?
SEM YF1801采用了簡(jiǎn)潔的設(shè)計(jì)語(yǔ)言,它的整體外觀非常簡(jiǎn)約,沒(méi)有過(guò)多的裝飾和線(xiàn)條,采用理性幾何切割,給人一種非常干凈和精致的感覺(jué)。SEM YF1801采用經(jīng)過(guò)會(huì)聚的高能電子束掃描樣品表面,收集并解析樣品產(chǎn)生的諸如二次電子,背散射電子,X射線(xiàn)等信號(hào),以觀察和分析樣品的微觀形貌,成分襯度,以及成分信息。它可以應(yīng)用于多個(gè)行業(yè):半導(dǎo)體工業(yè)、生物醫(yī)學(xué)工業(yè)、傳統(tǒng)材料工業(yè)和納米材料工業(yè)。該產(chǎn)品榮獲IDEA設(shè)計(jì)獎(jiǎng)。




周一至周六 (9:00-21:00)
提供全流程設(shè)計(jì)顧問(wèn)式服務(wù)